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高周波でコイルのLを測定
　

　
コイルのインダクタンス（L)はLCRメーターやブリッジ等で １ kHz 程度の低周波で測定するのが普通です．高周波ではスキンエフェクトによる抵抗の増加，コアの周波数特性，絶縁物の誘電体損失，コイル自体の特性等でLとQが変わります．高周波用のコイルの評価は高周波で行うのが望ましいのですが，そのための計器は高価です．

デジタルディップメーター（DDM）ならこれが可能です．
DDMはLC並列回路の共振周波数を非接触で測定できるので，Cの値が分かっていればLを共振周波数の公式で計算できます．Cが可変なら周波数を希望値に合わせることもできます．

目盛り付きバリコンVC740はそのために作られました．
中身はバリコンだけですが，パネルにはC目盛りとそれに対応するＬの目盛りがあります．未知のLをVC740の端子に接続し，DDMの周波数を指定値にあわせ，VC740のCダイアルを調節してディップさせるとL目盛りからインダクタンスを直読できます．DDMにDMC-230S2を使えば，Lの測定範囲は０．０６マイクロヘンリーから１ミリヘンリーです．原理はQメーターのLの測定と同じです．
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DELICA　三田無線研究所